高溫鐵電材料測試儀用途：

 1意向、高溫電壓提高至：0-20KV

 2、高溫頻率提高至：0-15KHZ

 3.計算機(jī)自動控制直接讀出數(shù)據(jù)文化價值，測試準(zhǔn)確

 4. 配置高壓信號發(fā)生器開展面對面，可測量陶瓷材料的鐵電。

 5.不僅能畫出鐵電薄膜的電滯回線非常重要，還可以定量得到鐵電薄膜材料的飽和極化Ps進一步提升、剩余極化Pr、矯頑場Ec營造一處、漏電流等參數(shù)改革創新，還可以進(jìn)行鐵電薄膜材料的鐵電疲勞、鐵電保持的測試取得顯著成效，電阻測量新模式，漏電流測量。

產(chǎn)品介紹

高溫鐵電測試儀用于鐵電體的鐵電測量不容忽視，組織了。本測試系統(tǒng)主要包括可編程信號源服務體系、微電流放大器、積分器搶抓機遇、放大倍數(shù)可編程放大器分析、模/數(shù)轉(zhuǎn)換器數(shù)/模轉(zhuǎn)化器、微機(jī)接口部分全面闡釋、微機(jī)和應(yīng)用軟件等部分組成非常激烈。

本測試系統(tǒng)采用虛地模式測量電路，與傳統(tǒng)的Sawyer-Tower模式相比引人註目，此電路取消了外接電容領域，可減小寄生元件的影響。此電路的測試精度僅取決于積分器積分電容的精度好宣講，減少了對測試的影響環(huán)節(jié)註入新的動力，比較容易定標(biāo)和，并且能實(shí)現(xiàn)較高的測量準(zhǔn)確度，它不僅能畫出鐵電薄膜的電滯回線去完善，還可以定量得到鐵電薄膜材料的飽和極化ps、剩余極化Pr長遠所需、矯頑場Ec範圍、漏電流Ik等參數(shù)，以及對鐵電薄膜材料鐵電疲勞紮實做、鐵電保持的測試空間廣闊。。儀器采用一體化設(shè)計提供深度撮合服務，實(shí)現(xiàn)測試結(jié)果全數(shù)字化服務品質，操作簡單方便。

鐵電材料參數(shù)測試儀主要是由正弦波組成部分、三角波影響、間歇三角波、梯形波發(fā)生器及正的過程中、負(fù)矩形脈沖和雙極性雙脈沖發(fā)生器外加鐵電材料電滯回線發展契機、I-V特性及開關(guān)特性測量電路構(gòu)成。適用于鐵電薄膜促進進步、鐵電體材料的電測量發力，可測量鐵電薄膜電滯回線、I-V特性及開關(guān)特性迎來新的篇章，可準(zhǔn)確地測出具有非對稱電滯回線鐵電薄膜的Pr值共創美好。可測鐵電體材料的電滯回線及IV特性。同時也可作為一臺通用信號發(fā)生器覆蓋範圍、高壓信號發(fā)生器使用優化程度。

產(chǎn)品特點(diǎn)

• 電滯回線測量、鐵電材料的飽和極化±Ps奮勇向前、剩余極化±Pr不斷豐富、矯頑場±Ec、電容量C等參數(shù)
• 鐵電疲勞測量
• 鐵電保持測量
• 電阻測量
• 漏電流測量
• 三維移動平臺

軟件功能

HC5000系列測試系統(tǒng)的軟件平臺hacepro,采用labview系統(tǒng)開發(fā)數據，符合導(dǎo)體創新的技術、半導(dǎo)體材料的各項(xiàng)測試需求發揮，具備穩(wěn)定性與性顯著，并具備斷電資料的保存功能，圖像資料可保存恢復(fù)開放以來，占。兼容，XP提供了有力支撐、win7供給、win10系統(tǒng)。

友善的使用界面

多語界面：支持中文/英文 兩種語言界面實事求是；

即時監(jiān)控：系統(tǒng)測試狀態(tài)即時瀏覽進行探討，無需等待；

圖例管理：通過軟件中的狀態(tài)圖示服務水平，一目了然最新，立即對狀態(tài)說明，了解測試狀態(tài)處理方法；

使用權(quán)限：可設(shè)定使用者的權(quán)限重要作用，方便管理；

故障狀態(tài)：軟件具有設(shè)備的故障報警功能習慣。

硬件支持

• 集成Intel@Celeron1037U1.8GHZ雙核處理器
• 集成打印機(jī)接口充足，大可擴(kuò)充8個USB接口
• 支持16G內(nèi)存，60G固體硬盤的積極性，讓系統(tǒng)運(yùn)行流暢綠色化發展。

應(yīng)用領(lǐng)域

• 鐵電材料的電滯回線（動態(tài)與靜態(tài)）、漏電流等特性不久前。
• 測量記錄在薄膜樣品上施加階躍電壓時的電流響應(yīng)左右。
• 超晶格材料在方波脈沖電壓激勵下的自漏電特性。

技術(shù)參數(shù)

1綜合措施、電壓范圍：±30V（可擴(kuò)展至±4KV）

2可靠保障、輸出電流峰值：±1A

3、大負(fù)荷電容：1μF

4、動態(tài)電滯回線測試頻率：0.001Hx～100kHz

5開展、鐵電材料漏電流的測試：10pA～100mA

6互動互補、小脈沖寬度：25ns

7、上升時間：7ns

8意向、極化測試到：10fC

9意料之外、塊體材料樣品盒可進(jìn)行室溫～1200℃電滯回線測定